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本发明涉及一种用于自动确定计算机断层成像系统(10)的多个X射线源(100a，100b)的X射线辐射(R1，R2)的谱分布的方法。在此首先确定X射线源(100a，100b)的起始控制参数(ANORM,UNORM)，其确定X射线辐射的剂量和谱...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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