下载碳化硅半导体装置的技术资料

文档序号:11161625

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

由于在肖特基电极的外周端处存在的前端尖锐形状的蚀刻残渣,易于在SBD高频开关动作时由于位移电流而在上述残渣部处引起电场集中。本发明的碳化硅半导体装置具有:第1导电型的漂移层(1b);在漂移层(1b)中形成的第2导电型的保护环区域(2);以将...
该专利属于三菱电机株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三菱电机株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。