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一种用于检测存储器件中可逆电阻转换元件的设置过程的装置，包括：位线，其耦接到可逆电阻转换元件；斜坡变化装置用于使位线的电压斜坡上升直到位线的电压足够将可逆电阻转换元件的电阻转换到更低级别；以及检测装置其耦接到位线，用于当可逆电阻转换元件的电...
该专利属于桑迪士克3D有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过桑迪士克3D有限责任公司授权不得商用。

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