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本发明提供一种能够对各种玻璃在软化点温度至1600℃的温度范围内的电导率进行测试的装置及其方法。熔融玻璃电导率测试装置，铂金坩埚放置在底座上，绝缘套筒放置于铂金坩埚内，所述绝缘套筒的内壁设置有台阶，电极片放置在台阶上，所述电极片、铂金坩埚的...
该专利属于成都光明光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都光明光电股份有限公司授权不得商用。

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