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电离层异常检测方法技术
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文档序号:10910749
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本发明提供一种电离层异常检测方法,首先根据第一双频载波相位测量值进行时间梯度的异常检测,得到基于时间梯度的检测结果,判断基于时间梯度的检测结果是否为异常,若是,则确定电离层存在异常,若否,则再根据第一双频载波相位测量值、第一双频码伪距测量值...
该专利属于北京航空航天大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京航空航天大学授权不得商用。
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