下载一种用于物探测量的点触式声波探头的技术资料

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本实用新型公开了一种用于物探测量的点触式声波探头,包括上下设置的上质量块和下质量块,上质量块的侧面凸出设置有用于与被测物体接触的锥体,上质量块和下质量块之间设置有依次由四个压电陶瓷片与三个电极片相间组成的两个晶振组,电极片上连接有正极引线和...
该专利属于中国电建集团北京勘测设计研究院有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中国电建集团北京勘测设计研究院有限公司授权不得商用。

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