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一种发光二极管检测方法，包括：检测发光二极管晶粒所发出的光线的频谱数据；检测荧光粉在受激发光后所发出的光线的频谱数据；根据发光二极管晶粒所发出的光线和荧光粉所发出光线的比例，计算发光二极管晶粒与荧光粉的合成光谱；将所计算的合成光谱与标准的或...该专利属于展晶科技（深圳）有限公司;荣创能源科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过展晶科技（深圳）有限公司;荣创能源科技股份有限公司授权不得商用。