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本发明提供了一种基于柱面扫描的三维近场成像的反向散射截面测量方法。该反向散射截面测量方法包括：在所选定的频率范围内，收发天线以一定的步进频率沿设定的圆柱表面进行扫描测试，获得未放置待测目标时和放置待测目标后的散射回波数据；根据未放置待测目标...
该专利属于中国科学院电子学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院电子学研究所授权不得商用。

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