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本发明提供一种集成电路硬件木马检测方法和系统，其中方法包括：获取设定数量的木马芯片和非木马芯片的旁路信息训练样本；对非木马芯片的旁路信息训练样本进行主成份分析获得k维主特征向量；分别计算待测芯片的旁路信息向量在所述非木马芯片的k维主特征向量...
该专利属于工业和信息化部电子第五研究所所有，仅供学习研究参考，未经过工业和信息化部电子第五研究所授权不得商用。

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