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一种两步衍射相位成像方法及对应相位恢复方法技术
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文档序号:10738171
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本发明公开了一种两步衍射相位成像方法及对应相位恢复方法,利用光栅衍射的0级先后与+1级和-1级衍射光形成两步共几何光路干涉图样,具有高度的稳定性,然后计算两干涉图样之差以消除背景光强,继而运用希尔伯特变换恢复样品的相位信息。相比离轴干涉常用...
该专利属于江苏大学所有,仅供学习研究参考,未经过江苏大学授权不得商用。
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