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本发明提供了一种内封测量光纤的超导带材，包括上保护层、下保护层、超导带层以及测量光纤，所述超导带层和测量光纤封装在上保护层和下保护层之间，所述测量光纤沿长度方向设置。所述测量光纤采用若干长光纤连续地封装在上保护层和下保护层之间，或，多根短光...
该专利属于上海超导科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海超导科技股份有限公司授权不得商用。

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