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本发明公开了一种接近检测器设备，可以包括：第一互连层，包括第一电介质层以及由其承载的多个第一导电迹线；IC层，在所述第一互连层之上并且具有图像传感器IC以及与所述图像传感器IC横向间隔的光源IC。所述接近检测器可以包括第二互连层，其在所述I...
该专利属于意法半导体研发(深圳)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过意法半导体研发(深圳)有限公司授权不得商用。

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