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公开了用于测试半导体器件的分选机。该用于测试半导体器件的分选机包括：插座板，具有与测试机电连接的测试插座；器件供应装置，配置为向测试插座供应半导体器件或从测试插座取回半导体器件；相机，获得测试插座的图像；传感器，当器件供应装置移动时检测暴露...
该专利属于泰克元有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰克元有限公司授权不得商用。

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