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本发明的实施例公开了一种有缺陷电连接的检测。该实施例涉及集成电路，所述集成电路包括至少两个电连接和与至少一个电连接相邻地布置的至少一个线圈，其中至少一个线圈中的每个线圈都包括至少一个绕组，并且其中至少一个线圈被布置在集成电路上或集成电路中。...
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