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本发明公开了一种测试元件组、阵列基板、显示装置和测试方法，涉及显示技术领域，能够有效检测出TFT远离栅极一侧的有源层表面的状况，且不会对TFT造成损伤。测试元件组，包括：薄膜晶体管，所述薄膜晶体管包括栅极、源极、漏极和有源层；所述薄膜晶体管...该专利属于合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司授权不得商用。