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用于接触式测头测量中提取二维轮廓的准形态学滤波方法，属于精密测试技术及仪器技术领域。用于接触式测头测量中提取二维轮廓的准形态学滤波方法，该方法以各个直接测量数据点对应位置的测头轮廓线的包络线作为最终的二维轮廓测量结果。在本发明的二维轮廓提取...
该专利属于北京工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学授权不得商用。

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