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本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种锂电池保护电路的测试方法和系统。本发明中，通过确保探针与熔丝的接触良好，保证VBG测试电压和VDET测试电压准确，避免因电压测量不准导致的熔丝烧断错误，使得在CP测试时根据VBG和VDET测试电压，进行...
该专利属于上海宏测半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海宏测半导体科技有限公司授权不得商用。

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