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本实用新型公开了一种叠层厚度测量装置，应用于冶金行业中金属叠层的叠片系数测量设备领域。所述叠层厚度测量装置包括：具有支架的测量台，所述支架位于所述测量台的台面上；夹紧机构；具有上压面和下压面的压力传感器；位于所述测量台台面上的第一驱动机构，...该专利属于安泰科技股份有限公司;安泰南瑞非晶科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过安泰科技股份有限公司;安泰南瑞非晶科技有限责任公司授权不得商用。