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一种电光相位调制器半波电压测量系统及测量方法技术方案
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文档序号:10386032
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本发明涉及一种电光相位调制器半波电压测量系统及测量方法,该系统包括顺次连接的激光光源、3dB耦合器、第一偏振控制器、偏振合束器、第三偏振控制器、检偏器、光电探测器、测量电路控制模块以及电压源,第一偏振控制器通过3dB耦合器和偏振合束器还并联...
该专利属于江苏金迪电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过江苏金迪电子科技有限公司授权不得商用。
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