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本发明涉及一种透明平整片状基底表面的金纳米材料计数方法，其包括以下步骤：将样品测定时所用溶剂加至透明平整片状基底表面，然后置于暗场显微镜下观察，采集得到背景散射图像；将金纳米材料加至透明平整片状基底表面，然后置于暗场显微镜下观察，采集得到金...
该专利属于北京大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京大学授权不得商用。

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