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一种波长片消光曲线测量装置，它包括暗箱，置于暗箱内的光源，在暗箱内，在光源发射光束前进的方向上依次置有起偏器，置放待测波长片的中心带有转台通光孔的旋转载物台，检偏器，置放检偏器的中心带有转架通光孔的旋转支架，接收器，置于暗箱外的输入端与接收...
该专利属于上海联能光子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海联能光子技术有限公司授权不得商用。

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