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一种基于白光频域干涉和三次相位函数的保偏光纤双折射色散测量方法。该方法适用于对保偏光纤的双折射色散值进行全光谱范围内的高精度测量。该方法基于迈克尔逊白光频域干涉测量系统，通过光谱仪采集频域干涉信号。然后采用基于三次相位函数的数据处理方法，从...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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