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本实用新型通过电子加速器、屏蔽准直装置、第一探测器阵列、第二探测器阵列、各种机械组合结构的设计，利用仅一台电子加速器、两组X射线束流和两组探测器系统，同时对两个通道内的受检查对象进行透视成像。根据本实用新型的双通道高能X射线透视成像系统可以...
该专利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过同方威视技术股份有限公司;清华大学授权不得商用。

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