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本发明涉及光学独立点测量。用于对物体上的待测点(10)的距离测量方法包括执行测量过程，包括发射测量射线，其中，当测量射线的光学测量轴与待测点(10)对准时，在物体上由射线的光束截面限定光学测量点区域(11)，特别是通过与测量射线的高斯射线分...
该专利属于赫克斯冈技术中心;海克斯康计量公司所有，仅供学习研究参考，未经过赫克斯冈技术中心;海克斯康计量公司授权不得商用。

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