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本发明提供一种光学材料折射率的精密测量装置及方法，该装置及方法能够实现宽光谱分析法和法布里-珀罗干涉法的结合，通过全局残差分析，得到精确的光学材料厚度和折射率，通过对宽光谱法布里-珀罗干涉系统进行光谱分析，可以得出某个连续波段下光学材料的折...
该专利属于合肥知常光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥知常光电科技有限公司授权不得商用。

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