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一种成像光谱目标识别分析中的模式识别方法，获取待测图像像元中三维成像光谱数据的像元光谱二维矩阵；对待预测的像元光谱矩阵进行校正光谱误差的预处理，得到预处理后的像元光谱二维矩阵；根据训练样本特征权重，计算预测样本与训练样本之间的权重欧式距离，...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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