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本发明公开了一种光纤扰动探测方法,本发明在测量时进行分段频率扫描,用同频光的散射曲线测量动态扰动,将K组测量下获得的传感光纤上任一点背向瑞利散射光光功率随频率的分布曲线与第一组测量下获得的对应点的背向瑞利散射光光功率随频率的分布曲线进行相关...该专利属于南京发艾博光电科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南京发艾博光电科技有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种光纤扰动探测方法,本发明在测量时进行分段频率扫描,用同频光的散射曲线测量动态扰动,将K组测量下获得的传感光纤上任一点背向瑞利散射光光功率随频率的分布曲线与第一组测量下获得的对应点的背向瑞利散射光光功率随频率的分布曲线进行相关...