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本发明体现用于监测和控制起绉工艺的特征的方法和设备。所述方法涉及测量沿起绉的纸片的不同点的光学特性并且将那些测量值转换成特征定义数据。本发明允许测定绉纹结构的幅值和分布以及它们的频率和分布。这允许产生准确的和比所述工业中当前使用的粗糙猜测更...
该专利属于纳尔科公司所有，仅供学习研究参考，未经过纳尔科公司授权不得商用。

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