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本发明涉及一种基于原子力显微镜的单粒子或单分子示踪装置及示踪方法，该示踪方法包括以下步骤：在进行单粒子或单分子示踪测量前对原子力显微镜探针针尖进行检测物的修饰；示踪测量过程中，原子力显微镜探针以恒定的力与被测物表面接触；当检测物与被测物有相...
该专利属于中国科学院长春应用化学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春应用化学研究所授权不得商用。

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