P波段准光腔变腔长法介电常数全自动测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种P波段准光腔变腔长法介电常数全自动测量装置，包括准光腔体、耦合波导、主体支撑部件、精密测距模块和步进位移驱动部件；准光腔体包括球面镜和平面镜，构成半对称谐振结构，球面镜的中心位置设有通孔，耦合波导设置在球面镜上，并与通孔匹配对应设置；平面镜设置在主体支撑部件上，步进位移驱动部件一端与主体支撑部件连接，另一端与球面镜连接，步进位移驱动部件能够带动球面镜上下移动；精密测距模块设置在主体支撑部件上，用于测量球面镜上下移动的距离。采用上述结构后，本实用新型专利技术实现了12.4GHz～18GHz频率范围变腔长法介电常数和损耗角正切的准确测量。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种P波段准光腔变腔长法介电常数全自动测量装置，包括准光腔体、耦合波导、主体支撑部件、精密测距模块和步进位移驱动部件；准光腔体包括球面镜和平面镜，构成半对称谐振结构，球面镜的中心位置设有通孔，耦合波导设置在球面镜上，并与通孔匹配对应设置；平面镜设置在主体支撑部件上，步进位移驱动部件一端与主体支撑部件连接，另一端与球面镜连接，步进位移驱动部件能够带动球面镜上下移动；精密测距模块设置在主体支撑部件上，用于测量球面镜上下移动的距离。采用上述结构后，本技术实现了12.4GHz～18GHz频率范围变腔长法介电常数和损耗角正切的准确测量。【专利说明】P波段准光腔变腔长法介电常数全自动测量装置
本技术涉及了一种用于介电性能测量领域的测量装置，特别是应用于P波段(12.4GHz?18GHz)采用准光腔变腔长法实现介电常数测量的全自动测量装置。
技术介绍
随着微波通信系统、精确制导、电子对抗等技术的发展和应用，对电路介质基片、天线单元介质衬底、天线罩等介质材料的研究越来越受到重视。复介电常数是描述低损耗介质材料电特性的最基本参数之一，在微波电路设计中，微波装置和微波器件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张娜，成俊杰，张国华，刘杰，高春彦，陈婷，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：实用新型
国别省市：