管理装置、管理方法、程序及记录介质制造方法及图纸

技术编号:9937926 阅读:79 留言:0更新日期:2014-04-19 01:15
一种管理装置,其管理在生产线上对工件的特性进行测量的多个测量器,该管理装置的特征在于:所述多个测量器各自对传送过来的工件的特性进行测量,且该管理装置具备:特性值取得部,取得由所述多个测量器对传送过来的所述工件的特性进行测量而得的多个特性值;运算部,根据所述特性值取得部取得的多个特性值,算出表达所述多个测量器之间的测量误差的参数。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】本专利技术的管理装置(40)取得包含有由多个测量器(11)对传送过来的工件的特性进行测量而获得的多个特性值的测量数据群,并基于该测量数据群来算出表达多个测量器间的测量误差的参数。【专利说明】管理装置、管理方法、程序及记录介质
本专利技术涉及一种对生产线上所用的测量器之间的测量误差进行管理的管理装置。
技术介绍
以往,制品生产线上具备有对作为最终制品或中间制品的工件的各种特性进行检查的检查步骤。此类检查步骤中会使用用以测定特性的测量器。若测量器测得的测量值落在规定沮围内,则判断制品为良品,若未落在规定沮围内,则判断制品为不良品。 通常,测量器在进行测量时,对I个工件的处理时间较长,因此会用多个测量器来进行并行处理。像这样采用多个测量器进行并行处理时,测量器间的测量误差便会成为问题。例如,当用3个测量器来测定10个相同的样品时,各测量器的测量值有时会互异。测量器间的这种测量误差将会给制品的特性带来较大的离散影响。另外,测量误差由于会因测量器的内部环境及外部环境的微小变化而增大,因此有随时间增大的倾向。因此,最好能在早期阶段监视测量器间的测量误差并对测量器进行校正等处理。关于测量器间的测量误差的监视方法,有一种通过直方图来视觉性表达每一测量器的测量值的方法。例如,若仅I个测量器的直方图如图13的(a)那样明显偏离其他测量器的直方图,则可以推测该测量器发生了某种异常。然而实际的生产线中,并不限只出现图13的(a)那样的仅I个直方图明显不同的情况,有时也会如图13的(b)那样,出现各测量器的直方图彼此稍不同的情况。对于后者的情况,仅凭观察图13的(b)的直方图,是难以判断测量器间的测量误差有无的。另外,当有I个测量器的直方图如图13的(a)那样明显发生偏离时,虽然能够确认出测量器间的测量误差有无,然而这只是在直方图发生了较大偏离时才能确认到。因此,测量器间的测量误差导致发生了较大的经济损失。这里所说的经济损失的原因在于,测量器间的测量误差增大所致的良品/不良品判断错误。此外,关于测量器间的测量误差的监视方法,还有一种对每一测量器的测量值的平均值进行确认的方法。例如,若如图14的(a)那样仅I个测量器(图中CH6所示)的直方图较大地偏离其他测量器的直方图,那么测量器CH6的测量值的平均值便与所有测量器的测量值的平均值相差“a”。因此能推测该测量器发生了某种异常。然而实际的生产线中,并不限只出现图14的(a)那样的仅I个直方图明显不同的情况,有时也会如图14的(b)那样,出现各测量器的直方图彼此稍不同的情况。对于后者的情况,仅凭各个测量器的测量值的平均值与所有测量器的测量值的平均值之间的差,是难以判断测量器间的测量误差有无的。对此,IS0/TS16949标准对测定系统分析(MSA !Measurement Systems Analysis)加以了规定。MSA是一种管理测量精度的方法。作为MSA手法的代表例,定有以下的评价法R&R (GRR)0【权利要求】1.一种管理装置,其管理在生产线上对工件的特性进行测量的多个测量器,该管理装置的特征在于: 所述多个测量器各自对传送过来的工件的特性进行测量, 且该管理装置具备: 特性值取得部,取得由所述多个测量器对传送过来的所述工件的特性进行测量而得的多个特性值; 运算部,根据所述特性值取得部取得的多个特性值,算出表达所述多个测量器之间的测量误差的参数。2.根据权利要求1所述的管理装置,其特征在于: 所述运算部算出表达第I标准差与第2标准差之间的相互关系的第I值来作为所述参数,其中,所述第I标准差是所述特性值取得部取得的多个特性值的、当将所述多个测量器之间的测量误差取O时的标准差,所述第2标准差是所述特性值取得部取得的多个特性值的标准差。3.—种管理装置,其 管理在生产线上对工件的特性进行测量的多个测量器,该管理装置的特征在于: 具备: 特性值取得部,取得通过所述多个测量器而获得的多个特性值; 运算部,根据所述特性值取得部取得的多个特性值,算出表达所述多个测量器之间的测量误差的参数, 所述运算部算出表达第I标准差与第2标准差之间的相互关系的第I值来作为所述参数,其中,所述第I标准差是所述特性值取得部取得的多个特性值的、当将所述多个测量器之间的测量误差取O时的标准差,所述第2标准差是所述特性值取得部取得的多个特性值的标准差。4.根据权利要求1~3中任一项所述的管理装置,其特征在于: 在设定有用以判断工件是否为良品的特性值的规格范围,且若特性值落入所述规格范围内就判断工件为良品的情况下, 所述运算部基于所述规格范围而算出第2值来作为所述参数,其中,所述第2值表达两种不良率之间的相互关系,所述两种不良率为:在将所述多个测量器之间的测量误差取O时,根据所述特性值取得部取得的多个特性值而得出的不良率;根据所述特性值取得部取得的多个特性值而得出的不良率。5.根据权利要求2或3所述的管理装置,其特征在于: 将反复测量同一工件而得的测量值的标准差设为EV,且将在同一条件下所测得的多个工件的测量值的标准差设为PV时, 所述运算部根据所述特性值取得部取得的多个特性值,将满足式子PV' 2 = PV2+EV2的PVi作为所述第I标准差来算出,且算出所述第2标准差TV,继而将TV/PV'或PV' /TV作为所述第I值来算出。6.根据权利要求5所述的管理装置,其特征在于: 将所述特性值取得部取得的多个特性值当中的由第i个测量器测得的第j个工件的特性值设为xij,并将所述多个测量器的个数设为a,还将第i个测量器测量的工件的个数设为ni时, 所述运算部按照以下各式 7.根据权利要求5所述的管理装置,其特征在于: 将所述特性值取得部取得的多个特性值当中的由第i个测量器测得的第j个工件的特性值设为xi j,且将所述多个测量器的个数设为a,并将第i个测量器测量的工件的个数设为ni时, 所述运算部按照以下各式 8.根据权利要求4所述的管理装置,其特征在于: 所述运算部进行以下处理(I)和(2): (1)将反复测量同一工件而得的测量值的标准差设为EV,且将在同一条件下所测得的多个工件的测量值的标准差设为PV时,根据所述特性值取得部取得的多个特性值,算出满足式子PV’2 = PV2+EV2的PVi,且算出所述特性值取得部取得的多个特性值的标准差TV ; (2)基于所述规格范围,将改善不良率作为所述第2值来算出,其中,所述改善不良率是,标准差取为TV时的不良率与标准差取为PV'时的不良率之间的差。9.根据权利要求8所述的管理装置,其特征在于: 所述运算部就TV的正态分布而将标准差落到规格范围外的概率作为标准差取为TV时的不良率来算出,且就PV'的正态分布而将标准差落到规格范围外的概率作为标准差取为PV’时的不良率来算出。10.根据权利要求1~9中任一项所述的管理装置,其特征在于: 所述运算部不仅算出所述参数,还算出所述特性值取得部取得的多个特性值的平均值及标准差,且将所述特性值取得部取得的多个特性值划分成每单个测量器所测得的特性值,并算出每单个测量器所测得的特性值的平均值及标准差。11.根据权利要求1~10中任一项所述的管理装置,其特征本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种管理装置,其管理在生产线上对工件的特性进行测量的多个测量器,该管理装置的特征在于:所述多个测量器各自对传送过来的工件的特性进行测量,且该管理装置具备:特性值取得部,取得由所述多个测量器对传送过来的所述工件的特性进行测量而得的多个特性值;运算部,根据所述特性值取得部取得的多个特性值,算出表达所述多个测量器之间的测量误差的参数。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:杉原史郎
申请(专利权)人:欧姆龙株式会社
类型:
国别省市:

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