联合收割机制造技术

技术编号:9843026 阅读:98 留言:0更新日期:2014-04-02 13:48
提供一种以简单的结构易于避免内部品质检测装置的尘埃附着的联合收割机。在比谷粒箱(10)的前侧壁(10F)靠内侧的部位设置有与谷粒箱(10)的谷粒存留空间(10b)隔开状态的检测室(70)。内部品质检测装置(40)配制于检测室(70)。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】提供一种以简单的结构易于避免内部品质检测装置的尘埃附着的联合收割机。在比谷粒箱(10)的前侧壁(10F)靠内侧的部位设置有与谷粒箱(10)的谷粒存留空间(10b)隔开状态的检测室(70)。内部品质检测装置(40)配制于检测室(70)。【专利说明】联合收割机
本专利技术涉及一种具有对割取谷杆进行脱粒处理的脱粒装置、从所述脱粒装置回收并存留谷粒的谷粒箱的联合收割机。本专利技术还涉及一种联合收割机,该联合收割机具有发动机;冷却风扇,其配置在所述发动机的行驶机体横向外侧,并向行驶机体横向内侧供给发动机冷却风;脱粒装置,其对割取谷杆进行脱粒处理;谷粒箱,其配置在所述发动机的后方,并回收存留来自所述脱粒装置的谷粒。
技术介绍
现有的联合收割机例如有专利文献I所示的联合收割机。专利文献I所示的联合收割机具有设置在谷粒箱内侧的左右一对取样绞龙和设置在谷粒箱外侧的箱前侧壁部的外面侧的检测部,并构成有水分检测机构。左右一对取样绞龙构成为承接供给到谷粒箱的脱粒后谷粒并送入检测部。检测部构成为通过由电动马达旋转驱动的一对电极旋转体将来自取样绞龙的脱粒后谷粒压碎,并通过检测控制部检测压碎状态下的两电极旋转体之间的电阻。专利文献1:(日本)特开平11-266668号公报为检测供给到谷粒箱的谷粒的内部品质而装备有内部品质检测装置的联合收割机能够在进行收获作业的同时检测收获的谷粒的内部品质。因此,具有如下优点,即,例如在收获作业结束之前预先调查对 具有所检测的内部品质的谷粒有需求的收购地,收获作业一结束,立即将收获的谷粒输送到调查了的收购地。而且,如果具有将供给到谷粒箱的谷粒的一部分作为内部品质检测装置的检测对象而取样并暂时保持的取样部,则在对取样的谷粒进行内部品质检测时,具有即使采用小型的内部品质检测装置也能够进行检测等优点。在适用上述现有技术,谷粒箱中装备有内部品质检测装置时,内部品质检测装置露出到谷粒箱的外部,内部品质检测装置上容易附着秸杆屑等尘埃。而且存在内部品质检测装置容易被碰到的问题。另外,在内部品质检测装置配置在谷粒箱的前部的联合收割机中,当内部品质检测装置容易受到位于谷粒箱前方的发动机的冷却风的热影响时,存在容易使内部品质检测装置的温度上升的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种以简单的结构易于避免内部品质检测装置的尘埃附着、破损等的联合收割机。本专利技术的联合收割机的特征在于,具有:脱粒装置,其对割取谷杆进行脱粒处理;谷粒箱,其回收并存留来自所述脱粒装置的谷粒;内部品质检测装置,其检测从所述脱粒装置供给到所述谷粒箱的谷粒的内部品质,在比所述谷粒箱的侧壁靠内侧的部位设置与所述谷粒箱的谷粒存留空间隔开的检测室,所述内部品质检测装置配置于所述检测室。根据该结构,内部品质检测装置被收容于进入谷粒箱的内侧的检测室,虽然内部品质检测装置在谷粒箱的谷粒存留空间之外,但其由谷粒箱覆盖,能够使谷粒箱具有保护内部品质检测装置、且防止尘埃附着于内部品质检测装置的盖罩的功能。因此,根据本专利技术,不仅易于避免内部品质检测装置的破损、尘埃附着,而且通过使谷粒箱具有盖罩功能的简单构造就能实现上述目的,从而能够降低成本。本专利技术中,优选使所述内部品质检测装置具有使检测介质作用于供给到所述谷粒箱的谷粒的检测部、基于来自所述检测部的检测信息检测谷粒的内部品质的检测控制部。根据本结构,能够以将检测部和检测控制部集中装备到检测室的紧凑状态构成内部品质检测装置。因此,根据本专利技术,在进行内部品质检测装置的维护时,仅在位于谷粒箱的检测室进行作业即可,能够提高效率。在本专利技术中,优选将所述检测室进入所述谷粒箱的内侧的深度设定为所述内部品质检测装置整体进入所述谷粒箱的内侧的深度。根据本结构,内部品质检测装置整体进谷粒箱的内侧,能够有效地发挥谷粒箱对内部品质检测装置的盖罩功能。因此,根据本专利技术,能够有效地防止内部品质检测装置的尘埃附着并保护内部品质检测装置。在本专利技术中,优选具有取样部,所述取样部配置于所述谷粒箱的谷粒存留空间,将供给到所述谷粒箱的谷粒的一部分作为所述内部品质检测装置的检测对象取样并保持。根据本结构,供给到谷粒箱的谷粒的一部分作为检测对象由取样部取样,并对被取样的谷粒进行内部品质检测,因此,即使采用小型的内部品质检测装置,也能够基于多次取样的检测结果得到高检测精度的检测结果。因此,根据本专利技术,能够采用小型的内部品质检测装置,以低成本得到高检测精度的检测结果。在本专利技术中,优选将所述取样部配置于所述谷粒箱的靠上端的部位。内部品质检测结束,则被取样的作为检测对象的谷粒从取样部向谷粒箱的谷粒存留空间排出,因此,检测完的谷粒堆积在谷粒存留空间中的取样部下方的部位。根据本结构,通过将取样部配置于谷粒箱的靠上端的部位,能够提高检测完的谷粒堆积在谷粒存留空间中的取样部下方的部位的高度。即,通过增加取样部的取样次数,即使从取样部排出的检测完的谷粒很多,也能够进行存留。因此,根据本专利技术,能够使取样部进行多次取样,进行检测精度较高的内部品质检测。在本专利技术中,优选将所述检测室配置在所述谷粒箱的靠上端的部位。根据本结构,配置于检测室的内部品质检测装置位于谷粒箱的靠上端的部位。因此,在具有取样部时,能够使取样部和内部品质检测装置的位置关系设为适于检测的位置关系,并将取样部配置于谷粒箱的靠上端的部位。因此,根据本专利技术,在具有取样部时,将取样部和内部品质检测装置的位置关系设为适于检测的位置关系,并将取样部配置在谷粒箱的靠上端的部位,从而能够使取样部进行多次的取样。在本专利技术中,优选将所述检测室与所述谷粒存留空间隔开,并将形成所述检测室的箱形的检测室形成体嵌在设置于所述侧壁的安装孔中。根据本结构,通过仅是将检测室形成体嵌在侧壁的安装孔中的简单的结构,就能够形成比谷粒箱的侧壁更进入内侧的检测室。因此,根据本专利技术,具有使内部品质检测装置进入谷粒箱的内侧的优点,并能够以简单的构造形成检测室,从而降低成本。在本专利技术中,优选使所述检测室形成体以支承所述内部品质检测装置的状态嵌在所述安装孔中。根据本结构,将内部品质检测装置安装于检测室形成体,通过采用将该状态的检测室形成体嵌在安装孔中的组装方法,能够使检测室形成体相对于谷粒箱的安装与内部品质检测装置的安装一并进行。因此,根 据本专利技术,通过简单的组装作业,能够得到使内部品质检测装置进入谷粒箱的内侧的优点。在本专利技术中,优选具有配置于所述谷粒箱的谷粒存留空间、并将供给到所述谷粒箱的谷粒的一部分作为所述内部品质检测装置的检测对象取样并保持的取样部,所述检测室形成体以支承所述取样部的状态嵌在所述安装孔中。根据本结构,将取样部安装于检测室形成体,通过采用将该状态的检测室形成体嵌在安装孔中的组装方法,能够使检测室形成体相对于谷粒箱的安装与取样部向谷粒存留空间的配置一并进行。因此,根据本专利技术,通过简单的组装作业,能够获得具有取样部且进行高检测精度的内部品质检测的结构。在本专利技术中,优选使所述检测室形成体相对于所述安装孔自由拆装。根据本结构,在保持内部品质检测装置或取样部安装于检测室形成体的状态下,通过从安装孔拆下检测室形成体,能够将内部品质检测装置或取样部与检测室形成体一并取出。因此,根据本专利技术,在对内部品质检测装置或取样部进行检查等作业时,仅本文档来自技高网
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联合收割机

【技术保护点】
一种联合收割机,其特征在于,具有:脱粒装置(6),其对割取谷秆进行脱粒处理;谷粒箱(10),其回收并存留来自所述脱粒装置(6)的谷粒;内部品质检测装置(40),其检测从所述脱粒装置(6)供给到所述谷粒箱(10)的谷粒的内部品质;在比所述谷粒箱(10)的侧壁(10F)靠内侧的部位设置与所述谷粒箱(10)的谷粒存留空间(10b)隔开的检测室(70),所述内部品质检测装置(40)配置于所述检测室(70)。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:北野达也高原一浩押谷诚松藤和宪
申请(专利权)人:株式会社久保田
类型:发明
国别省市:

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