【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及产品测试领域,特别涉及一种对嵌入式产品在测试过程中捕获异常信息并保存以备事后分析的方法。
技术介绍
在研发人员开发出产品转到测试部进行产品性能测试是否符合准标要求时,测试过程中往往会发现比较多的Bug (错误)。大部分Bug是可再现的,但其中有一些Bug是偶尔出现的或是很难复现的。这种Bug的出现事前没有任何的规律可寻。这就造成了,测试人员与研发人员很难发现问题所在,不知道当时问题发生时,是引什么原因引起的。即不知道当时程序运行的上下文信息及调用关系。十分不利于这种问题的解决。往往测试人员与开发人员在这类问题上花费大量时间去复现问题。因为是偶现,测试人员不知道什么时候会出现,所以当突然出现时,也没有任何规则可寻,也没记录有用信息。这就造成了测试效果不佳,效率极率。甚至有时候还找不到问题所在,给产品埋下了安全隐患。目前,解决偶现bug问题,很多方法都是当程序出现异常时,再分析异常信息。但很多时候是测试人员无意识、无目的性操作中引起的偶尔性出现或无规则突然性、难复现的异常,基本无有用异常信息供分析。造成问题无法解决。另外,采用一些专用工具捕获偶 ...
【技术保护点】
一种嵌入式设备测试异常信息自动捕获方法,其特征在于:包括以下步骤:A、启动待测嵌入式设备,保存侦测信息文件;B、在待测嵌入式设备的软件中实现strace?绑定待侦测的进程;C、把信息捕获到指定的文件;D、监控所述的指定的文件,当其大小超过阀值时,自动清空旧的数据。
【技术特征摘要】
1.一种嵌入式设备测试异常信息自动捕获方法,其特征在于:包括以下步骤: A、启动待测嵌入式设备,保存侦测信息文件; B、在待测嵌入式设备的软件中实现strace绑定待侦测的进程; C、把信息捕获到指定的文件; D、监控所述的指定的文件,当其大小超过阀值时,自动清空旧的数据。2.根据权利要求1所述的嵌入式设备测试异常信息自动捕获方法,其特征在于:在启动待测产品后,通过...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢奕勇,
申请(专利权)人:深圳市共进电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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