改善SINLCD和COGLCD显示斜纹不良的方法技术

技术编号:9718283 阅读:109 留言:0更新日期:2014-02-27 04:53
本发明专利技术公开了一种改善SIN-LCD和COG-LCD显示斜纹不良的方法,其特征在于涂布完钛化硅固化后再印PI时,将台阶上也涂上PI,台阶的PI位置大于钛化硅的位置。通过在台阶的钛化硅层上印上PI,可以使盒内的PI高度与台阶的PI高度一致,摩擦时不存在台阶,摩擦后不会出现台阶钛化硅层大小的斜纹不良。

【技术实现步骤摘要】
改善SINLCD和COGLCD显示斜纹不良的方法
本专利技术涉及ー种IXD的生产エ艺方法,尤其涉及ー种改善SIN-1XD和COG-1XD显示斜纹不良的方法。
技术介绍
IXD屏由于显示内容丰富、功耗低,被广泛应用于エ业生产的各个领域,现有的IXD屏是由IT0、液晶、偏光片或针脚组成;在一般的环境温度下,可以很好的显示使用者需要的各种信息;其中STN-LCD (COG)的高路数产品生产难度大,良率较低。其中摩擦斜纹不良是影响良率的主要因数之一,尤其是对STN-1XD (COG)灰阶产品的良率影响。一般来说,COG产品会在盒内、台阶端子走线区域(非绑定区域)印上钛化硅层,台阶钛化硅层保护端子走线不被腐蚀。采用毛轮不能转向的摩擦机,摩擦出沟槽,锚定液晶分子时,沿着端子上的钛化硅层出现与摩擦方向一致的摩擦斜纹,灌液晶通电点亮吋,LCD显示的深浅不一致。
技术实现思路
为了解决上述问题,本专利技术提供了改善SIN-LCD和COG-1XD显示斜纹不良的方法。本专利技术是这样来实现的:改善SIN-1XD和COG-1XD显示斜纹不良的方法,其特征在于涂布完钛化硅固化后再印PI吋,将台阶上也涂上PI,台阶的PI位置大于钛化硅的位置。本专利技术的有益效果是:通过在台阶的钛化硅层上印上PI,可以使盒内的PI高度与台阶的PI高度一致,摩擦时不存在台阶,摩擦后不会出现台阶钛化硅层大小的斜纹不良。【具体实施方式】为了便于理解,下面结合实施例对本专利技术进行详细说明。实施例1 SIN-1XD涂布完钛化硅固化后再印PI吋,将台阶上也涂上PI,台阶的PI位置大于钛化娃的位置0.5mm。实施例2 COG-1XD涂布完钛化硅固化后再印PI吋,将台阶上也涂上PI,台阶的PI位置大于钛化娃的位置0.5mm。上述实施例对本专利技术的实施方式作了详细说明,但是本专利技术并不限于上述实施方式,在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本专利技术宗g的前提下作出各种变化。本文档来自技高网...

【技术保护点】
改善SIN?LCD和COG?LCD显示斜纹不良的方法,其特征在于涂布完钛化硅固化后再印PI时,将台阶上也涂上PI。

【技术特征摘要】
1.改善SIN-1XD和COG-1XD显示斜纹不良的方法,其特征在于涂布完钛化硅固化后再印PI时,将台阶上也涂上PI。2.根据权利要求1所述的改善SIN-LCD和COG-LCD显示斜...

【专利技术属性】
技术研发人员:范燕辉文开福
申请(专利权)人:江西合力泰科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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