一种颗粒温度δv的测量方法技术

技术编号:9717570 阅读:148 留言:0更新日期:2014-02-27 04:07
本发明专利技术提供了一种颗粒温度δv的测量方法,用于流化床内颗粒温度的测量,其特征在于,用激光作为光源,通过凹透镜扩散后照射在流化床内的颗粒上,在远场产生动态波动的散斑,用成像装置以单位曝光时间T0对散斑连续成像,得到一系列曝光时间为T0的散斑图像;将散斑图像输入电脑,电脑将单位曝光时间T0的散斑图像转换成单位曝光时间T0的像素灰度值,单位曝光时间T0的像素灰度值经过计算得到颗粒温度δv随时间变化的曲线。根据本发明专利技术提供的一种颗粒温度δv的测量方法,可使时空分辨率达到微秒级和纳米级。

【技术实现步骤摘要】
—种颗粒温度S V的测量方法
本专利技术涉及一种颗粒温度Sv的测量方法,尤其涉及一种以激光为光源,采用线阵相机成像,测量流化床内颗粒温度的方法。
技术介绍
流化床是将大量固体颗粒悬浮于运动的流体之中,从而使颗粒具有流体的某些表观特征,流化床内的颗粒运动越剧烈,流化效果越好。按照流化床内的颗粒运动速度,流化床可分为:高速流化床、低速流化床、以及高低速混合流化床。颗粒温度(granular temperature,〈 S v>)被用来表征流化床内颗粒随机运动的活跃程度,通过借鉴非均匀的稠密气体分子运动论的分析方法,把颗粒随机运动与气体分子的热运动相比拟,用颗粒温度描述颗粒由于碰撞造成的随机脉动,颗粒温度的大小表示了颗粒速度脉动的强弱,其定义为:

【技术保护点】
一种颗粒温度δv的测量方法,用于流化床内颗粒温度的测量,其特征在于,所述测量方法包括以下步骤:步骤一:用激光作为光源,通过凹透镜扩散后照射在所述流化床内的颗粒上,在远场产生动态波动的散斑;步骤二:用成像装置以单位曝光时间T0对步骤一中的所述散斑连续成像,得到一系列所述单位曝光时间T0下的散斑图像;步骤三:将步骤二中的所述散斑图像输入电脑,所述电脑将所述单位曝光时间T0下的所述散斑图像转换成所述单位曝光时间T0下的像素灰度值;步骤四:将步骤三中得到的所述单位曝光时间T0下的所述像素灰度值经过计算,得到所述颗粒温度δv随时间变化的情况。

【技术特征摘要】
1.一种颗粒温度Sv的测量方法,用于流化床内颗粒温度的测量,其特征在于,所述测量方法包括以下步骤: 步骤一:用激光作为光源,通过凹透镜扩散后照射在所述流化床内的颗粒上,在远场产生动态波动的散斑; 步骤二:用成像装置以单位曝光时间Ttl对步骤一中的所述散斑连续成像,得到一系列所述单位曝光时间Ttl下的散斑图像; 步骤三:将步骤二中的所述散斑图像输入电脑,所述电脑将所述单位曝光时间Ttl下的所述散斑图像转换成所述单位曝光时间Ttl下的像素灰度值; 步骤四:将步骤三中得到的所述单位曝光时间Ttl下的所述像素灰度值经过计算,...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨晖杨海马孔平郑刚
申请(专利权)人:上海理工大学
类型:发明
国别省市:

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