触控面板检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种触控面板检测装置，其包括：一金属检测平台及一触控面板。金属检测平台具有一探测单元，探测单元用以设置于一测量位置，金属检测平台连接于一微处理单元。触控面板设置于金属检测平台上，触控面板上具有多个电极线路，每一电极线路具有一供探测单元测量的测试点。当探测单元设置于测量位置时，探测单元连接于测试点，用以测量每一电极线路的电容值。本实用新型专利技术仅需要制作一个探测单元（已知技术为两个探测单元），更进一步降低探测单元的成本，还可以提高触控面板的检测效率。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
触控面板检测装置
本技术涉及一种触控面板检测装置，尤指一种触控面板与检测平台相互电性连通的触控面板检测装置。
技术介绍
随着技术的日新月异，目前触控面板已广泛地应用于数字式的电子产品上，无论是笔记本电脑、手机或是可携式多媒体播放器等电子装置，使用者可方便且容易地利用触控面板来进行各项功能的操作，逐渐利用触控面板来取代传统键盘以作为新一代输入接口，常见的触控面板依技术原理主要可区分为电容式、电阻式、音波式、红外线式等等，电容式触控面板因为具有多点触控的特性而备受瞩目。其中，以电容式与电阻式触控面板的市场占有率最高，电容式与电阻式触控面板同样以例如:氧化铟锡(ITO)等的导电玻璃作为感应单元，然而不同的是当使用者手指触控时，电容式的触控面板中的导电玻璃处会产生电容变化，电阻式的触控面板中的导电玻璃处则是产生电压变化，无论是电容或电压变化的信号，均通过连接于导电玻璃上的多个导线输出至微处理单元，该微处理单元可依据变化信号计算出按压点的位置。由此可知，电容式触控面板的感测正确性主要依赖每一感测轴线的电性特性而决定。所以，感测轴线中若有断路、短路或是电容效应不均匀的情形发生都会影响感测的正确性。因此，感测轴线的检测变得相当重要。上述电容式及电阻式触控面板在制作完成后，必须测试每一感测轴线与导电玻璃之间是否导通，而目前所使用的测试仪器为探针型式，也即该仪器设有多个探针，测试时该些探针针刺接触于每一感测轴在线，如此仪器便能与导线电连接，从而判断导电玻璃的信号是否有传递至感测轴线。并且，在一般触控面板在生产流程检测时，必须以手动的方式对触控面板作检测，但此种检测方式非常耗时间，随着触控面板的需求量不断提升，传统以手动方式的测试方法更显得毫无效率。本案专利技术人有鉴于上述缺点，且积累个人从事相关产业开发实务上多年的经验，精心研究，终于提出一种设计合理且有效改善上述问题的结构。
技术实现思路
本技术提供一种触控面板检测装置，用以检测一触控面板是否断路或短路，所述触控面板检测装置包括:一金属检测平台，所述金属检测平台具有一探测单元，所述探测单元用以设置于一测量位置，所述金属检测平台连接于一微处理单元；以及一触控面板，所述触控面板设置于所述金属检测平台上，所述触控面板上具有多个电极线路，每一个所述电极线路具有一用于所述探测单元进行测量的测试点；其中，当所述探测单元设置于所述测量位置时，所述探测单元连接于所述测试点，所述探测单元用以测量每一个所述电极线路的电容值。本技术还提供一种触控面板检测装置，用以检测一触控面板是否断路或短路，所述触控面板检测装置包括:一检测平台，所述检测平台上设有所述触控面板，且所述触控面板与所述检测平台相互电性连接，所述触控面板上具有多个电极线路，所述检测平台具有一探测单元，所述探测单元用以设置于一测量位置，每一个所述电极线路具有一用于所述探测单元进行测量的测试点，所述检测平台连接于一微处理单元；其中，所述检测平台具有一绝缘座、及一被覆于所述绝缘座上且用以与所述触控面板电性连通的金属层，当所述探测单元设置于所述测量位置时，所述探测单元连接于所述测试点，所述探测单元用以测量每一个所述电极线路的电容值。优选地，所述触控面板检测装置进一步包括一自动进出料系统，所述自动进出料系统包括:至少一用以托取及放置所述触控面板的机械手臂、至少一用于托取所述触控面板的分料盒、及至少一用于放置所述触控面板的收料盒。优选地，所述测试点为软性印刷电路板连接区。优选地，所述电极线路为自容式电极线路或互容式电极线路。优选地，所述触控面板为多联板。优选地,所述触控面板检测装置进一步包括一显示单元,所述显示单元连接于所述微处理单元。本技术的有益效果可以在于，一种触控面板检测装置，其可通过“当所述探测单元设置于所述测量位置时，所述探测单元连接于所述测试点，用以测量每一所述电极线路的电容值”的设计，藉此，利用氧化铟锡层与外部的金属检测平台连接形成一测试点，该测试点用以测量每一电极线路对金属检测平台的电容值，进一步通过电容值的变化来判断该电极线路有无断路。除此之外，本技术仅需要制作一个探测单元(已知技术为两个探测单元)，更进一步降低探测单元的成本，还可以提高触控面板的检测效率。为使能更进一步了解本技术的特征及
技术实现思路
，请参阅以下有关本技术的详细说明与附图，然而所附图式仅提供参考与说明用，并非用来对本技术加以限制。【附图说明】图1为本技术第一实施例的正视示意图。图2为本技术第一实施例中检测平台的俯视示意图。图3为本技术第一实施例中触控面板的示意图。图4为本技术第二实施例的示意图。图5为本技术实施例中触控面板的另一示意图。【符号说明】触控面板检测装置Z检测平台I探测单元10微处理单元12显示单元14测试按钮16气动开关按钮 18触控面板2、2’透明基板20、20’氧化铟锡层22布线区24测试点240导线242电极线路26X轴电极线路260Y轴电极线路262电极28X 轴电极280Y 轴电极282自动进出料系统 M机械手臂30分料盒 32收料盒34间隙G【具体实施方式】〔第一实施例〕请参考图1至图3所示，图1为本技术触控面板检测装置Z的正视示意图，图2为本技术触控面板检测装置Z中检测平台I的俯视示意图，图3A为本技术触控面板检测装置Z中触控面板2的示意图。由上述图中可知，本技术提供一种触控面板检测装置Z，用以检测一触控面板2是否断路(Open)或短路(short)，触控面板检测装置Z，包括:一金属检测平台1、及一触控面板2。其中，本具体实施例是以电容式触控面板(Capacitive Touch Panel, CTP)为例作说明。首先，请参考图1至图2所示，金属检测平台I具有一探测单元10，探测单元10用以设置于一初始位置(图未示)及一测量位置(图未示)，且该探测单元10通过金属检测平台I连接于一微处理单元12，可使探测单元10由初始位置移动至测量位置后，对电极线路26进行电容的测量。其中，微处理单元12可以为电脑、微控制器(Micro Control Unit, MCU)坐寸ο其中，请参考图1、图2、图3及图5所示，金属检测平台I呈平板状且定义有检测区，该检测区以用平放待检测的触控面板2，且该金属检测平台I的检测尺寸，大体上略大于该待检测触控面板2的尺寸。具体来说，检测区尺寸可用来检测多片已经过切割工艺的触控面板2 (子板)，或者是未经切割工艺的触控面板(多联板)2’，例如:800 (L)mmX800(W)mm，该触控面板(多联板)2’中的每一触控面板(子板)之间均具有一间隙部G。然而，本技术待检测触控面板2的尺寸大小不以此为限。接着，该触控面板检测装置Z，还设有一测试按钮16及至少一气动开关按钮18。该气动开关按钮18是用以真空吸附待检测的触控面板2于金属检测平台I后，再按压测试按钮16进行检测其电容值，检测后同样按压气动开关按钮18进行破真空以取出检测后的触控面板2。另外，触控面板检测装置Z，进一步包括:一连接于微处理单元12的显示单元14。该显示单元14设于金属检测平台I上，且与一微处理单元12相连接，显示单元14用以显示微处理单元12接收测量数据后的运本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控面板检测装置，用以检测一触控面板是否断路或短路，其特征在于，所述触控面板检测装置包括：?一金属检测平台，所述金属检测平台具有一探测单元，所述探测单元用以设置于一测量位置，所述金属检测平台连接于一微处理单元；以及?一触控面板，所述触控面板设置于所述金属检测平台上，所述触控面板上具有多个电极线路，每一个所述电极线路具有一用于所述探测单元进行测量的测试点；?其中，当所述探测单元设置于所述测量位置时，所述探测单元连接于所述测试点，所述探测单元用以测量每一个所述电极线路的电容值。

【技术特征摘要】
1.一种触控面板检测装置，用以检测一触控面板是否断路或短路，其特征在于，所述触控面板检测装置包括: 一金属检测平台，所述金属检测平台具有一探测单元，所述探测单元用以设置于一测量位置，所述金属检测平台连接于一微处理单元；以及 一触控面板，所述触控面板设置于所述金属检测平台上，所述触控面板上具有多个电极线路，每一个所述电极线路具有一用于所述探测单元进行测量的测试点； 其中，当所述探测单元设置于所述测量位置时，所述探测单元连接于所述测试点，所述探测单元用以测量每一个所述电极线路的电容值。2.一种触控面板检测装置，用以检测一触控面板是否断路或短路，其特征在于，所述触控面板检测装置包括: 一检测平台，所述检测平台上设有所述触控面板，且所述触控面板与所述检测平台相互电性连接，所述触控面板上具有多个电极线路，所述检测平台具有一探测单元，所述探测单元用以设置于一测量位置，每一个所述电极线路具有一用于所述探测单元进行测量的测试点，所述检测平台连接于一微处...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴俊谋，
申请(专利权)人：群嘉精密股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：