【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试系统以及其测试方法，且特别涉及一种。
技术介绍
技术的进展已使高速电子电路成为可能。由于良好研发的电子装置(诸如，微处理器以及存储器)，有可能使电子电路在高速环境中操作且仍保持良好的性能。然而，为了在高速下测试电子电路的输入以及输出，需要高速测试器。为了测试电子电路，高速测试器将产生具有高于6千兆位/秒(Gbps)的数据速率的数据模式(data pattern)。由于高速测试器是昂贵的，因此在测试电子电路时应避免对高速测试器的使用。此外，常规测试方法简单地测试电子电路的芯片外驱动器以及接收器，且诸如时钟接收器、先进先出(first-1n-first-out，简称FIFO)缓冲器、串行/并行转换器、时钟树以及封装的其它电元件并未被测试。为了降低成本，用于在高速下测试电子电路的经济方法是必要的。
技术实现思路
本专利技术提供一种，以实现高速测试功能。本专利技术提供一种电路测试系统，其包括电路测试设备以及待测试电路。电路测试设备提供第一时钟信号。待测试电路耦接到电路测试设备。待测试电路包括多个输入/输出垫以及至少一个第一时钟垫。输入/输出垫中的至少两个第一输入/输出垫相互连接以在第一测试模式期间形成第一测试回路。第一时钟垫接收第一时钟信号。待测试电路使第一时钟信号的频率倍增以产生第二时钟信号，且待测试电路的第一测试回路在第一测试模式期间基于第二时钟信号而测试。在本专利技术的实施例中，待测试电路还包括至少一个第二时钟垫。第二时钟垫连接到输入/输出垫中的至少一个第二输入/输出垫以在第二测试模式期间形成第二测试回路。待测试电路的第一测试...
【技术保护点】
一种电路测试系统，其特征在于，包括：电路测试设备，其提供第一时钟信号；以及待测试电路，其耦接到所述电路测试设备，其中所述待测试电路包括：多个输入/输出垫，其中所述输入/输出垫中的至少两个第一输入/输出垫相互连接以在第一测试模式期间形成第一测试回路；以及至少一个第一时钟垫，其接收所述第一时钟信号，其中所述待测试电路使所述第一时钟信号的频率倍增以产生第二时钟信号，且所述待测试电路的所述第一测试回路在所述第一测试模式期间基于所述第二时钟信号而测试。
【技术特征摘要】
2012.08.13 US 13/584,7921.一种电路测试系统，其特征在于，包括: 电路测试设备，其提供第一时钟信号；以及 待测试电路，其耦接到所述电路测试设备，其中所述待测试电路包括: 多个输入/输出垫，其中所述输入/输出垫中的至少两个第一输入/输出垫相互连接以在第一测试模式期间形成第一测试回路；以及至少一个第一时钟垫，其接收所述第一时钟信号， 其中所述待测试电路使所述第一时钟信号的频率倍增以产生第二时钟信号，且所述待测试电路的所述第一测试回路在所述第一测试模式期间基于所述第二时钟信号而测试。2.根据权利要求1所述的电路测试系统，其特征在于，所述待测试电路还包括: 至少一个第二时钟垫，其连接到所述输入/输出垫中的至少一个第二输入/输出垫以在第二测试模式期间形成第二测试回路， 其中所述待测试电路的所述第一测试回路以及所述第二测试回路在所述第二测试模式期间基于所述第二时钟信号而测试。3.根据权利要求2所述的电路测试系统，其特征在于，所述待测试电路还包括: 多个输入/输出接口单元，其各自耦接到所述输入/输出垫中的相应输入/输出垫或所述至少一个第二时钟垫，以用于将数据传输到所述相应输入/输出垫以及从所述相应输入/输出垫或所述至少一个第二时钟垫接收数据。4.根据权利要求3所述的电路测试系统，其特征在于，耦接到所述输入/输出垫中的所述相应输入/输出垫的所述输入/输出接口单元中的每一个包括:接收单元，其耦接到所述相应输入/输出垫且从所述相应输入/输出垫接收数据；以及传输单元，其耦接到所述相应输入/输出垫且将数据传输到所述相应输入/输出垫，其中所述至少两个第一输入/输出垫中的一个的所述接收单元位于所述第一测试回路中，且所述至少两个第一输入/输出垫中的另一个的所述传输单元位于所述第一测试回路中。5.根据权利要求3所述的电路测试系统，其特征在于，耦接到所述至少一个第二时钟垫的所述输入/输出接口单元包括: 接收单元，其耦接到所述至少一个第二时钟垫且从所述至少一个第二时钟垫接收数据， 其中所述至少一个第二时钟垫的所述接收单元位于所述第二测试回路中，且所述至少一个第二输入/输出垫的所述传输单元位于所述第二测试回路中。6.根据权利要求3所述的电路测试系统，其特征在于，所述待测试电路还包括: 数据寄存器单元，其耦接到所述输入/输出接口单元，基于第一写时钟从所述输入/输出接口单元接收数据，且基于读时钟将数据输出到所述输入/输出接口单元。7.根据权利要求6所述的电路测试系统，其特征在于，所述待测试电路还包括: 时钟产生单元，其耦接于所述数据寄存器单元与所述电路测试设备之间，使所述第一时钟信号的所述频率倍增以产生所述第二时钟信号，且提供所述第二时钟信号以充当所述第一写时钟以及所述读时钟。8.根据权利 要求7所述的电路测试系统，其特征在于，所述时钟产生单元包括: 时钟倍增单元，其耦接到所述电路测试设备且使所述第一时钟信号的所述频率倍增以产生所述第二时钟信号； 读时钟产生单元，其耦接到所述数据寄存器单元且基于所述第二时钟信号提供所述读时钟；以及 写时钟产生单元，其耦接到所述数据寄存器单元且基于所述第二时钟信号或第二写时钟提供所述第一写时钟。9.根据权利要求8所述的电路测试系统，其特征在于，所述时钟产生单元还包括: 选择单元，其耦接于所述时钟倍增单元与所述写时钟产生单元之间，选择所述第二时钟信号以及所述第二写时钟中的一个，且将所述所选择者提供到所述写时钟产生单元， 其中所述第二写时钟从所述第二测试回路传输到所述选择单元。10.根据权利要求8所述的电路测试系统，其特征在于，所述时钟产生单元还包括: 延迟单元，其耦接于所述写时钟产生单元与所述时钟倍增单元之间且将所述第二时钟信号或所述第二写时钟延迟历时可调整时段。11.一种电路测试方法，其特征在于，所述待测试电路包括第一测试回路以及...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑文昌，
申请(专利权)人：南亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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