用于光学伺服系统频谱曲线测试的光学Chirp信号生成方法技术方案

技术编号:9693313 阅读:198 留言:0更新日期:2014-02-20 21:41
本发明专利技术涉及一种用于光学伺服系统频谱曲线测试的光学Chirp信号生成方法,包括以下步骤:由平行光管产生可在光电经纬仪成像传感器上成像的目标,使平行光管的目标能够在光电经纬仪上清晰成像;使旋转臂按照设定速度和幅度带动平行光管摆动,产生光学Chirp信号;由主控计算机完成对光电经纬仪频谱曲线的计算处理。本发明专利技术提出的用于光学伺服系统频谱曲线测试的光学Chirp信号生成方法,可以为光电经纬仪伺服系统频谱曲线测试提供输入信号,在此基础上利用相应算法和手段即可完成光电经纬仪伺服系统频谱曲线的测试,对光电经纬仪跟踪性能的室内评价具有重要意义。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电测量设备精密检测领域,特别涉及一种。
技术介绍
光电经纬仪伺服系统的跟踪性能是光电经纬仪动态性能的ー项重要指标,是光电经纬仪出厂时必须检测的指标。目前,光电经纬仪伺服系统动态性能室内检测方法主要有光学动态靶标检测、等效正弦引导检测两种方法。这两种方法都是在时域内对跟踪性能进行测试,只能反映设备特定速度、加速度值时的性能指标,无法对光电经纬仪的整体跟踪性能做出评价。为解决这个问题,提出通过测试光电经纬仪频谱特性曲线,进而利用频谱曲线中幅频曲线部分间接地完成对光电经纬仪整体跟踪性能评价。该评价方法的理论基础是光电经纬仪伺服控制系统是ー个单输入单输出的线性系统,根据经典控制理论,微分方程、传递函数、频率特性均可表征系统的运动规律。为了测试光电经纬仪的频谱特性,其方法是利用设备产生动态目标作为输入信号,光电经纬仪跟踪目标并将跟踪误差作为输出,利用频谱曲线处理方法进行数据处理得到光电经纬仪频谱曲线。为了准确测得曲线,要求输入信号能够充分激励光电经纬仪伺服系统的所有模态或特征。从谱分析的角度,也就意味着输入信号的频谱必须足可以覆盖系统的频谱。为完成对光电经纬仪频谱曲线本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光学伺服系统频谱曲线测试的光学Chirp信号生成方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,由平行光管产生可在光电经纬仪成像传感器上成像的目标,使平行光管的目标能够在光电经纬仪上清晰成像;步骤二,通过时统终端在光学Chirp信号生成装置和光电经纬仪之间建立统一时间基准;建立主控计算机和光电经纬仪之间的串行通讯,利用主控计算机设置光学Chirp信号的幅值、信号包络、线性调频斜率参数,然后通过RS422串口通讯将参数给伺服控制器;伺服控制器进行控制处理后产生PWM信号送至伺服驱动器;伺服驱动器驱动力矩电机转动,使旋转臂绕精密轴系摆动;24位绝对式光电编码器完成对旋转臂的角位置和角速度的精密测量...

【技术特征摘要】
1.一种用于光学伺服系统频谱曲线测试的光学Chirp信号生成方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤一,由平行光管产生可在光电经纬仪成像传感器上成像的目标,使平行光管的目标能够在光电经纬仪上清晰成像; 步骤ニ,通过时统終端在光学Chirp信号生成装置和光电经纬仪之间建立统ー时间基准; 建立主控计算机和光电经纬仪之间的串行通讯,利用主控计算机设置光学Chirp信号的幅值、信号包络、线性调频斜率參数,然后通过RS422串ロ通讯将參数给伺服控制器; 伺服控制器进行控制处理后产生PWM信号送至伺服驱动器; 伺服驱动器驱动カ矩电机转动,使旋转臂绕精密轴系摆动; 24位绝对式光电编码器完成对旋转臂的角位置和角速度的精密測量; 根据被检测光电经纬仪的性能指标,按照光学Chirp信号生成公式计算光学Chirp信号的信号包络、线性调频斜率和幅度值,使生成的光学Chirp信号能够覆盖被检测光电经纬仪工作角速度范围; 通过在主控计算机光学Chirp信号的信号包络、...

【专利技术属性】
技术研发人员:张宁沈湘衡宋莹姬琪
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
类型:发明
国别省市:

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