测试磁性团簇微观促发作用的方法技术

测试磁性团簇微观促发作用的方法，本发明专利技术涉及测试磁性团簇促发作用的方法。本发明专利技术要解决现有测试磁性团簇微观促发作用的方法存在操作复杂，测量仪器数量极少且价格昂贵的问题。方法：一、材料准备；二、研磨和打磨；三、控制材料的距离；四、固定；五、物理性质测量系统测试，即可测试磁性团簇微观促发作用。本发明专利技术测试磁性团簇微观促发作用的方法用简单宏观手段即能测试磁性团簇微观促发作用，可以直观测试，与微观测试方法相比具有简单易行的优势。本发明专利技术用于测试磁性团簇微观促发作用的方法。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】，本专利技术涉及测试磁性团簇促发作用的方法。本专利技术要解决现有存在操作复杂，测量仪器数量极少且价格昂贵的问题。方法：一、材料准备；二、研磨和打磨；三、控制材料的距离；四、固定；五、物理性质测量系统测试，即可测试磁性团簇微观促发作用。本专利技术用简单宏观手段即能测试磁性团簇微观促发作用，可以直观测试，与微观测试方法相比具有简单易行的优势。本专利技术用于。【专利说明】
本专利技术涉及测试磁性团簇促发作用的方法。
技术介绍
具有庞磁阻性质的复合锰氧化物在低温下显示了磁场促发的由电荷有序反铁磁向铁磁的转变，类锰氧化物中存在典型的相分离特征。相分离是纳米、微米尺寸上的概念，低温下的测量十分困难，研究多在液氮温度下进行，加磁场的测量仪器更是极少。相分离体系中台阶状变磁相变现象更是凝聚态物理与材料物理当前研究的前言与热点，该类现象的研究对研究磁控量子开关类现象的潜在应用具有重要指导意义。综上所述，现有测试磁性团簇促发作用的方法，需要在能加磁场的低温磁力显微镜(MFM)下进行，操作复杂，而现有低温磁力显微镜极少，能加磁场的低温磁力显微镜更少，目前国内仅一台。
技术实现思路
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【技术保护点】
测试磁性团簇微观促发作用的方法，其特征在于测试磁性团簇微观促发作用的方法是按照以下步骤进行的：一、材料准备：准备极低温下磁场促发的台阶状变磁相变临界场的材料A及极低温下磁场促发的台阶状变磁相变临界场的材料B；所述的材料A与材料B的临界场不同；所述的材料A临界场为0.5T～5T；所述的材料B临界场为0.5T～5T；二、研磨：将材料A放置在玛瑙研钵中进行研磨，得到研磨后的材料A；将材料B放置在玛瑙研钵中进行研磨，得到研磨后的材料B；所述研磨后的材料A的粒径为50nm～0.01mm；所述研磨后的材料B的粒径为50nm～0.01mm；三、控制材料距离：将研磨后的材料A与研磨后的材料B混合均匀并压片，得...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李玉，程倩，戚大伟，
申请(专利权)人：东北林业大学，
类型：发明
国别省市：