【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种利用测试装置来确定平板X射线图像探测器中传感器几何偏移的方法，所述测试装置包括边缘测试装置，所述探测器具有至少两个固定在安装板上的传感器，所述方法包括：在所述探测器的工作表面上与所述传感器之间的间隙相对应地放置至少两个所述边缘测试装置；将所述测试装置在X射线下曝光，以获得所述测试装置的X射线图像；在获得的所述X射线图像中，识别与每个所述边缘测试装置的边缘相对应的像素，利用所述像素，通过目标函数的最小值来确定所述传感器的几何偏移。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：科萨列夫·鲁斯兰·尼古拉耶维奇，
申请(专利权)人：NIPK电子封闭式股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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