一种超高压光电导开关测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种超高压光电导开关测试装置，属于半导体器件测试技术领域。其包括测试平台和测试电路，所述的测试平台包括万向轮、箱体工作台和夹紧机构；所述的万向轮安装于箱体工作台的底部，所述的夹紧机构设置于箱体工作台的顶部；所述的测试电路安置于箱体工作台的内部。针对现有技术结构复杂、无法简便的更换待测光电导开关且不能适用于多种测试环境的问题，本实用新型专利技术设计有专门的待测光电导开关夹紧机构，可以方便对待测光电导开关进行更换，并且底部装有万向轮，使得本实用新型专利技术可以适用于多种测试环境。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种超高压光电导开关测试装置，其特征在于，包括测试平台和测试电路，所述的测试平台包括万向轮（1）、箱体工作台（2）和夹紧机构（3）；所述的万向轮（1）安装于箱体工作台（2）的底部，所述的夹紧机构（3）设置于箱体工作台（2）的顶部；所述的测试电路安置于箱体工作台（2）的内部。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周郁明，姜浩楠，
申请(专利权)人：安徽工业大学，
类型：实用新型
国别省市：