一种用于光学测试仪的测试头制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于光学测试仪的测试头，包括用于获取待测试液晶面板的光学参数的测试头主体、支撑部件和连接部件；所述支撑部件具有中空部分，所述支撑部件与放置于所述中空部分中的所述测试头主体通过所述连接部件固定，用于支撑所述测试头主体。有益效果如下：通过与测试头主体固定连接的支撑部件，使得在测试水平放置的待测面板时，测试头相对稳定，减少歪倒损伤待测试液晶面板的现象；进一步的，在支撑部件下端设置吸盘，使测试头吸附于待测面板上，并保持测试头主体垂直于待测面板的平面，尤其在待测面板垂直放置时，不需要手持测试头进行测试，解决了手持测试头测试时漏光的问题，避免测试结果不准确。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于光学测试仪的测试头，其特征在于，包括：用于获取待测试液晶面板的光学参数的测试头主体、支撑部件和连接部件；?所述支撑部件具有中空部分，所述支撑部件与放置于所述中空部分中的所述测试头主体通过所述连接部件固定，用于支撑所述测试头主体。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵天月，王红，韩艳玲，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：