一种光子型微波频率测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光子型微波频率测量方法及装置，方法为：在宽频带全频率测量范围进行低分辨率的频率测量，测得反应待测微波信号频段的反馈电压；在反馈电压的作用下，对待测微波信号进行高分辨率的频率测量；装置包括光信号产生器、耦合模块、载波抑制双边带调制模块、载波相移调制模块、第一耦合器、单模光纤、第二耦合器、两光探测器和功率比较及数模转换模块。本发明专利技术利用两测得的光载微波功率相除得到功率比较函数（ACF）与待测微波信号的频率fe及光信号相移量φ之间的关系，并通过测量反馈电压改变光信号相移量φ，从而对待测微波频率进行局部频率高分辨率测量，实现了在宽频带全频率范围对待测微波信号进行高分辨率测量的目的。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光子型微波频率测量方法，其特征在于：包括如下步骤：A、在宽频带全频率测量范围进行低分辨率的频率测量，测得反应待测微波信号频段的反馈电压；B、在测得的反应待测微波信号频段的反馈电压的作用下，对待测微波信号进行高分辨率的频率测量；其中，步骤A分解为如下步骤：A1、提供一耦合模块，对两光信号进行耦合并分成两路子光信号，将待测微波信号调制在其中一路子光信号上，产生两组±1阶光边带；将另一路子光信号及一预先设定大小的初始反馈电压送入载波相移调制模块，该载波相移调制模块在初始反馈电压作用下对另一路子光信号进行相移调制；A2、提供第一耦合器，对光载微波及载波相移调制模块的输出信号进行耦合，并将耦合输出的...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张华林，
申请(专利权)人：闽南师范大学，
类型：发明
国别省市：