一种利用IT-CCD测量脉冲激光重频的方法技术

本发明专利技术公开了一种利用IT-CCD测量脉冲激光重频的方法，包括标定得到IT-CCD垂直转移驱动频率和帧频、将被测量脉冲激光入射至IT-CCD光敏面、计算相邻次光斑单元的间距或次光斑单元数目，从而得到脉冲激光的重复频率；该测量方法可用于较高重复频率和较窄脉宽的激光参数测量，具有原理简单可靠的特点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种利用IT?CCD测量脉冲激光重频的方法，其特征在于，包括以下步骤：[1]标定得到IT?CCD垂直转移驱动频率Fv；[2]衰减被测量脉冲激光，并使之入射至IT?CCD光敏面；[3]调节被测激光脉冲的强度，在确保IT?CCD器件不受损伤的前提下，使得IT?CCD收集势阱产生溢出信号，此时IT?CCD的显示单元出现次光斑图像；[4]保存次光斑图像，计算相邻次光斑单元的间距N，所述的间距以像素数表示；[5]计算得到脉冲激光的重复频率f：f=Fv/N，所述的IT?CCD为顺序扫描方式；f=2Fv/N，所述的IT?CCD为隔行扫描方式。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张震，程德艳，周孟莲，马志亮，陈绍武，叶锡生，冯国斌，
申请(专利权)人：西北核技术研究所，
类型：发明
国别省市：