双楔板色散剪切干涉超光谱成像装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种双楔板色散剪切干涉超光谱成像装置及方法,该装置包括前置光学系统、双楔色散板Sagnac横向剪切分束系统、成像系统和信号处理系统；入射光进入前置光学系统，确定目标视场，消除杂散光并形成准直光束，进入双楔色散板Sagnac横向剪切分束系统，光被横向剪切，由于双楔板的色散作用，剪切距离随着光波长而变化，引入随波数变化的光程差信息进入成像系统，在成像物镜后焦面处的探测器靶面上得到携带干涉条纹的目标图像，旋转横向剪切分束器或整个系统获取目标各点不同光程差下的干涉信息，信号处理系统对干涉信息进行傅里叶变换，得到超分辨率的光谱信息及各个谱段的二维图像信息；本发明专利技术具有超光谱分辨率、高光通量、高目标分辨率的优点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种双楔板色散剪切干涉超光谱成像装置，其特征在于：包括沿光路方向依次放置的前置光学系统（1）、双楔色散板Sagnac横向剪切分束系统(2)、成像系统(3)和信号处理系统(4)；其中，前置光学系统(1)包括沿光路方向依次设置的前置物镜(11)和准直物镜(12)，前置成像物镜(11)的像面和准直物镜(12)的前焦面重合；双楔色散板Sagnac横向剪切分束系统(2)包括共光轴顺时针依次设置的分束器(21)、第一反射镜(22)、第一楔形色散板(24)、第二楔形色散板(25)、第二反射镜(23)；成像系统(3)包括沿光路方向依次设置的成像物镜(31)、探测器(32)，其中探测器(32)的靶面位于成像物镜...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李建欣，刘德芳，孟鑫，孙宇声，郭仁慧，沈华，马骏，朱日宏，陈磊，何勇，
申请(专利权)人：南京理工大学，
类型：发明
国别省市：