【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种由实验室的基础测量仪器构成的用于测量待测光信号的光谱测量系统,其特征在于,包括:光学斩波器,将所述待测光信号转化为周期性的交变光信号;单色仪,将所述交变光信号分光成一系列不同波段的单色光信号,所述不同波段的集合为所述待测光信号所处的总波段;探测器,连续探测所述不同波段的单色光信号并将所述不同波段的单色光信号转变为相应波段内相应强度的不同电信号;锁相放大器,放大所述电信号;数据采集卡,采集和传输经所述锁相放大器放大过后的电信号;曲线处理模块,安装于计算机中,对所述数据采集卡采集和传输来的所述电信号转换为相对应的电压强度,根据所述电压强度与所述待测光信号的光强度两者成正比例关系得到相对应波段的光强度从而绘制出所述待测光信号所处的总波段内的波谱曲线图。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:张文君,翟保才,董洪波,许键,
申请(专利权)人:上海理工大学,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。