一种微小距离的测定方法技术

技术编号:9404652 阅读:113 留言:0更新日期:2013-12-05 05:37
本发明专利技术公开了一种微小距离的测定方法,该方法首先将靶膜加载到靶膜支架上,将阻停膜加载到阻停膜支架上,靶膜和阻停膜形成平行板电容器,然后测量平行板电容器的电容值,最后根据所述的电容值计算得出靶膜与阻停膜之间的距离。本发明专利技术所述的微小距离测定方法,利用电容法对距离进行测量,通过测量靶膜与阻停膜之间的平行板电容器的电容可以精确地测出两膜之间的微小距离。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种微小距离的测定方法,包括以下步骤:(1)将靶膜加载到靶膜支架上,将阻停膜加载到阻停膜支架上,靶膜和阻停膜形成平行板电容器;(2)测量所述的平行板电容器的电容值;(3)根据所述的电容值计算靶膜与阻停膜之间的距离,理论计算公式为:??????其中,为靶膜与阻停膜之间的距离,为真空介质常数,为介质相对介电常数,为所述平行板电容器的有效面积,所述的电容值。2013103210079100001dest_path_image002.jpg

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吴晓光汪金龙贺创业李广生吴义恒胡世鹏郑云
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1