一种用超声无损探测法对金属的真伪鉴别的方法技术

本发明专利技术涉及一种用超声无损探测法对金属的真伪鉴别的方法，由参考样品预处理、超声检测参考样品声参量、超声检测待测样品声参量、参考样品与待测样品声参量对比四个步骤构成，鉴别出金属制品的真伪，而且本发明专利技术的鉴别方法不需要对金属制品进行破坏，鉴别过程中也不会对其产生伤害，实现无损鉴别，此外，相对于传统的物理及化学鉴别方法来说，本发明专利技术单独鉴别即可得出金属真伪的结果，无需多种方法配合，相对鉴别方法简单，成本低廉，鉴别结果准确合理，即使对于同种材质在不同热处理条件下得到的不同金属制品也能够一一鉴别出来。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用超声无损探测法对金属的真伪鉴别的方法，由以下步骤组成：（1）对厚度至少为10mm的金属参考样品，上下表面加工平行，并对其表面进行打磨、清洗干净；（2）将收发探头固定在金属参考样品的表面上，发射频率为2.5～10MHz脉冲信号并采集金属参考样品的底面反射信号，测定并计算出金属参考样品的声速、声衰减系数、幅度谱中一次底面回波的峰值频率和带宽以及功率谱中一次底面回波的峰值频率和带宽；（3）将待测样品表面打磨并清洗干净，使其表面粗糙度与金属参考样品的粗糙度相同，将步骤（2）的收发探头固定在待测样品的表面上，使其收发探头与待测样品的耦合条件与步骤（2）的耦合条件一致，测定并计算出待测样品的声速、声衰减系数、幅度谱中一次底面回波的峰值频率和带宽以及功率谱中一次底面回波的峰值频率和带宽；（4）将步骤（3）得到的待测样品的声速、声衰减系数、幅度谱中一次底面回波的峰值频率和带宽以及功率谱中一次底面回波的峰值频率和带宽与步骤（2）中金属参考样品的声速、声衰减系数、幅度谱中一次底面回波的峰值频率和带宽以及功率谱中一次底面回波的峰值频率和带宽一一对应进行比较，若六个参量完全一致，则待测样品与金属参考样品材料相同；否则，待测样品与金属参考样品材料不相同，即鉴别出待测样品的真伪；上述金属为在常温下化学性质稳定的固态纯金属或其二元、三元合金。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：贺西平，贺升平，田彦平，张宏普，
申请(专利权)人：陕西师范大学，
类型：发明
国别省市：