【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种在硅衬底上生长硒化铋单晶薄膜的方法,其特征在于,包含如下步骤:步骤1.对单晶硅表面做化学清洗并刻蚀钝化,得到硅衬底;步骤2.将Bi2Se3蒸发源(12)和硅衬底(13)分别放置于管式炉石英管中心区和第一管口(14),密封石英管并抽真空;使其内部压降低于5帕;步骤3.加热石英管中心区;使中心区温度达到550?600摄氏度;管口温度达到200?250摄氏度;步骤4.从石英管的第二管口(15)通入惰性载气,开始生长薄膜;步骤5.薄膜生长完成后,停止通入氩气及加热,待石英管温度冷却后,再通入保护气充满石英管后,取出样品。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:李含东,高磊,李辉,王高云,罗思源,任武洋,艾远飞,巫江,周志华,王志明,
申请(专利权)人:电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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