一种测量冷原子实验系统真空压强的简单方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及冷原子实验系统的真空压强测量技术，具体是一种测量冷原子实验系统真空压强的简单方法及装置。本发明专利技术解决了现有冷原子实验系统的真空压强测量技术测量过程中能量消耗大、以及测量仪器需要占用一定空间体积的问题。一种测量冷原子实验系统真空压强的简单方法，该方法是采用如下步骤实现的：a.测得冷原子实验系统在相同背景真空压强下不同俘获光功率的装载曲线；b.对冷原子实验系统在相同背景真空压强下不同俘获光功率的原子损耗系数进行线性拟合；c.根据冷原子实验系统中原子与背景气体碰撞导致的损耗系数，计算得出冷原子实验系统的真空压强。本发明专利技术适用于冷原子实验系统的真空压强测量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测量冷原子实验系统真空压强的简单方法，其特征在于：该方法是采用如下步骤实现的：a.测得冷原子实验系统在相同背景真空压强下不同俘获光功率的装载曲线；根据测得的装载曲线，获得冷原子实验系统在相同背景真空压强下不同俘获光功率的原子损耗系数????????????????????????????????????????????????；b.对冷原子实验系统在相同背景真空压强下不同俘获光功率的原子损耗系数进行线性拟合；根据线性拟合结果，得出冷原子实验系统中原子与背景气体碰撞导致的损耗系数；c.根据冷原子实验系统中原子与背景气体碰撞导致的损耗系数，计算得出冷原子实验系统的真空压强；计算公式如下：；式中...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵延霆，元晋鹏，姬中华，肖连团，贾锁堂，
申请(专利权)人：山西大学，
类型：发明
国别省市：